Результаты поиска по тегу «Микроскопия» 3 результата

  • Наномир в новом свете: ученые Университета ИТМО создали «белый» ближнепольный оптический микроскоп

    Ученые Университета ИТМО показали, что наночастица из кремния и золота может служить эффективным источником белого света при накачке импульсным лазером в ближнем инфракрасном диапазоне. Такая белая «нанолампочка» была интегрирована в стандартный зондовый микроскоп, что позволило преодолеть дифракционный предел в оптических измерениях и рассмотреть объекты меньше длины волны. Более того, оказалось возможным изучать оптический отклик нанообъектов сразу во всем видимом спектральном диапазоне, а не только на отдельных длинах волн света. Новая технология не только может удешевить и упростить современную ближнепольную микроскопию, но имеет потенциал применения для биоимиджинга, то есть найдет применение и в медицинских приложениях. Сейчас на разработку оформляется патент, а ее описание опубликовано в престижном международном журнале Nano Letters.

    29.12.2017

  • Ученые смогли посчитать микроскопические частицы без микроскопа

    Ученые из России и Австралии предложили простой способ подсчета микроскопических частиц в оптических материалах с помощью лазера. Пучок света, проходя через такой материал, распадается и образует на проекционном экране узор из множества ярких пятен. Исследователи обнаружили, что количество этих пятен соответствует количеству рассеивающих микроскопических частиц в материале. Таким образом, строение и форму оптических материалов можно установить без использования дорогостоящей электронной или атомно-силовой микроскопии, что, в частности, позволит проектировать оптические устройства значительно быстрее. Исследование опубликовано в журнале Scientific Reports.

    09.08.2016

  • Щупаем нано: как изучить тонкую структуру со сверхвысоким разрешением

    Как известно, до сих пор наиболее распространенным видом микроскопии является оптический микроскоп. Однако для изучения материалов на наноуровне разрешения оптического микроскопа, которое ограничивается дифракционным пределом до значений около 200 нм, уже недостаточно. Детали изучаемой структуры просто меньше длины падающей на нее волны, и изображение «замыливается». Поэтому в области нанотехнологий давно применяются более современные методы микроскопии, наиболее известными и востребованными из которых являются сканирующие зондовые и электронные микроскопы.

    26.07.2016

Архив по годам:
Пресс-служба